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產(chǎn)品型號
Zetium 礦物版 -
廠商性質(zhì)
代理商 -
更新時間
2025-04-18 -
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產(chǎn)品描述
Zetium 礦物版 X射線熒光光譜儀的設(shè)計適合在采礦流程的每一階段中進行材料分析。 從勘探樣品到精礦、從礦石到尾礦,礦物版都可以在要求嚴苛的采礦環(huán)境中提供靈活性、分析性能和穩(wěn)定性。相關(guān)文章
產(chǎn)品型號
Zetium 礦物版廠商性質(zhì)
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147產(chǎn)品描述
Zetium 礦物版 X射線熒光光譜儀的設(shè)計適合在采礦流程的每一階段中進行材料分析。 從勘探樣品到精礦、從礦石到尾礦,礦物版都可以在要求嚴苛的采礦環(huán)境中提供靈活性、分析性能和穩(wěn)定性。產(chǎn)品型號
Epsilon 4廠商性質(zhì)
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162產(chǎn)品描述
Epsilon 4 X射線熒光光譜儀是一款多功能臺式 XRF 分析儀,廣泛用于從研發(fā)到流程控制等各個領(lǐng)域中需要從氟 (F) 到镅 (Am) 元素分析的行業(yè)細分市場。 Epsilon 4 將激發(fā)和檢測技術(shù)與成熟軟件和智能設(shè)計相結(jié)合,其分析性能更接近于功率更高的落地式 XRF 光譜儀。產(chǎn)品型號
Epsilon Xflow廠商性質(zhì)
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146產(chǎn)品描述
通過使用 Epsilon Xflow X射線熒光光譜儀進行在線液體分析,可以快速準確地控制過程參數(shù)。 增強的法規(guī)和質(zhì)量規(guī)范推動對持續(xù)工藝流程的需求。 Epsilon Xflow 提供的實時洞察能力讓您能夠更有效地管理您的生產(chǎn)工藝并降低運營成本。產(chǎn)品型號
Epsilon Xline廠商性質(zhì)
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154產(chǎn)品描述
Epsilon Xline X射線熒光光譜儀將我們優(yōu)良的能量色散 XRF技術(shù)與在線功能相結(jié)合。這種優(yōu)良的解決方案可在卷對卷 (R2R) 涂層工藝中實現(xiàn)實時材料監(jiān)測和過程控制。直接分析可以持續(xù)優(yōu)化材料成分和負載,有助于最大限度地減少不合格生產(chǎn)并最大限度地提高成本效率。適應(yīng)性強的 Epsilon Xline 可以在各種表面和元素中提供精確和準確的過程控制。產(chǎn)品型號
Aeris廠商性質(zhì)
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157產(chǎn)品描述
Aeris 緊湊型X射線衍射儀。5 分鐘內(nèi)即可提供精確結(jié)果。此前只有大型落地式 xrd系統(tǒng)才能實現(xiàn)如此快速的高質(zhì)量數(shù)據(jù)采集。這款緊湊型 Aeris 外形小巧、功能強大,是同類產(chǎn)品中的創(chuàng)新者。