Epsilon Xline X射線熒光光譜儀的優(yōu)點(diǎn)

無(wú)損在線過(guò)程控制 – 無(wú)需采樣

一系列掃描模式，可持續(xù)適應(yīng)貼片和多通道涂層工藝

通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)通信協(xié)議，可輕松集成到生產(chǎn)過(guò)程中

能夠測(cè)量所有有價(jià)值的重要元素，包括鉑和鈰

能夠以出色的精度測(cè)量薄層

適應(yīng)一系列卷筒寬度

機(jī)械臂可通過(guò)將測(cè)量頭懸停在生產(chǎn)線上的各個(gè)方向來(lái)提供優(yōu)良距離控制

面臨燃料電池生產(chǎn)的挑戰(zhàn)

鉑催化劑占燃料電池總成本的 20% 以上，因此通過(guò)均勻分散和一致的分層優(yōu)化催化劑涂層至關(guān)重要。

Epsilon Xline 使高效的操作控制變得簡(jiǎn)單，幫助您：

最大限度地減少不合格生產(chǎn)

節(jié)省貴重的鉑金，避免浪費(fèi)

生產(chǎn)具有成本競(jìng)爭(zhēng)力的最終產(chǎn)品

Epsilon Xline X射線熒光光譜儀功能

在線全面自動(dòng)化 ：得益于 Epsilon Xline 的無(wú)縫集成功能，可享受 R2R 的連續(xù)生產(chǎn)，適用于各種薄膜和涂層應(yīng)用。

簡(jiǎn)單且安全 ：與手持式或傳統(tǒng)儀器不同，Epsilon Xline 安全且易于使用，并提供高度準(zhǔn)確的分析數(shù)據(jù)。

畢生經(jīng)驗(yàn) ： 借鑒 Malvern Panalytical 在元素分析領(lǐng)域長(zhǎng)達(dá) 70 多年的 寶貴經(jīng)驗(yàn)，與我們的行業(yè)合作伙伴合作開(kāi)發(fā)，旨在滿(mǎn)足其當(dāng)前的需求，同時(shí)也能共同展望行業(yè)的未來(lái)。

最大產(chǎn)量 。通過(guò)實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)和無(wú)中斷實(shí)現(xiàn)具有成本競(jìng)爭(zhēng)力的生產(chǎn)，為您提供所需的直接洞察力和控制力，助力您的運(yùn)營(yíng)發(fā)揮最大效益。

優(yōu)良材料效率 。消除不一致，避免浪費(fèi)貴重材料，并使用我們的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)解決方案確保產(chǎn)出高質(zhì)量產(chǎn)品。

Epsilon Xline 由客戶(hù)開(kāi)發(fā)和測(cè)試，采用高度校準(zhǔn)技術(shù)，可確保穩(wěn)定的分析，以獲得準(zhǔn)確的結(jié)果。

經(jīng)過(guò)驗(yàn)證的技術(shù)

工藝中的元素分析

X 射線熒光  (XRF) 是一種無(wú)損元素分析技術(shù)，可在催化膜涂層過(guò)程中進(jìn)行在線監(jiān)測(cè)，無(wú)需采集樣品，不會(huì)造成化學(xué)或物理變化。?

由此實(shí)現(xiàn)的實(shí)時(shí)在線分析可以快速優(yōu)化許多工藝參數(shù)和產(chǎn)品屬性。

高度可重復(fù)、準(zhǔn)確測(cè)量且維護(hù)需求低

Epsilon Xline 和我們的一系列 Epsilon 儀器采用經(jīng)過(guò)驗(yàn)證的強(qiáng)大技術(shù)，該技術(shù)由最新的激發(fā)和探測(cè)技術(shù)提供支持。設(shè)計(jì)精良的光路、適合輕元素和重元素的廣泛激發(fā)功能，加上高靈敏度 SDD 探測(cè)器系統(tǒng)，這一切造就了 Epsilon Xline 的強(qiáng)大性能。這些創(chuàng)新共同產(chǎn)生了高度可重復(fù)和準(zhǔn)確的結(jié)果，并且維護(hù)需求低。

產(chǎn)品參數(shù)